Howdy @ all...
ich bin nahezu verzweifelt. Ich habe eine Schaltung gebaut die ein NAND auf seine Funktionalität prüfen soll. Diese habe ich auf einem Proto-Board versuchsweise aufgebaut und funtzte einwandfrei. Nur die geätzte Variante macht stress.
Zur Funktionsweise:
Ein NAND mit 2 Eingängen besitzt ja bekanter weise 4 mögliche Zustände. Low-Low / Low-High / High-Low / High- High. Ich teste mit einem Takt ab und gebe das serielle Signa, den Code, an die Auswertung. Das Signal wird von seriell nach parallel umgewandelt und dann mittels eines D-FlipFlops ( IC 74175 ) abgespeichert. Dieses nun statische Signal wird zum Komparatoreingang gegeben und überprüft.
Soviel dazu...
... mein Prob: Das D-FlipFlop spinnt! *G*
Ich habe mir mal die Eingangs-Ausgangssignale mit nem Oszi angeguckt. Das FlipFlop schaltet auch wenn keine negative Taktflanke am Clockeingang existiert. Das macht mich WIRKLICH stuzig und ich habe keine Ahnung woran das liegen könnte.
Versorgungsspannung habe ich auch oszilloskopiert, und konnte kleine Spitzen darauf ausmachen (ca. +-0,25 V). Sonst aber ist alles in Ordnung.
Über hilfreiche Vorschläge wäre ich wirklich sehr erfreut!
THX im voraus!